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電輸運性質測量系統半導體材料測試儀器 標準系統一次可以同時測量2個樣品，增加選件可同時測量4個樣品。

電輸運- 變溫電阻測試材料測試系統 電測量 I-V特性—不同磁場和不同溫度下的I-V特性曲線； R-H特性-固定溫度，電阻隨著磁場變化的特性曲線； R-T特性—固定磁場，電阻隨著溫度變化的特性曲線。

材料磁阻測試 電輸運測量儀器 TESTIK-9A 可以進行霍爾效應、R-H特性、R-T特性和I-V特性的測量

材料電輸運測量系統 輸運性質測量儀器 電阻測量范圍寬：100nΩ（低電阻選件）～ 100GΩ（高阻系統）。